当前，AI 算力爆发式增长正推动高速光互联需求急剧攀升，“光进电退”，CPO ／ 硅光量产落地已成为光电子产业的核心趋势。光电检测技术加速赋能光通信产业高质量发展。
在此背景下，第二十七届中国国际光电博览会（CIOE 中国光博会）将于 2026 年 9 月 9 日至 11 日在深圳国际会展中心举办，为光电产业跨领域融合与高质量发展搭建战略性平台，助力新质生产力培育。
本次 VIP 展台直播将走进诚锋科技 12D26 展位，直播时间：9 月 9 日下午 15：40?16：00，带您现场探访诚锋自研光学检测设备。深度解读纳米级检测核心技术优势，分享国产化检测设备在半导体、光通信领域的落地实践，剖析行业检测现存痛点与解决思路。诚锋科技产品总监将现场解读产品硬核实力，欢迎行业同仁线上交流，共同探讨光学检测产业发展新方向。
直播企业Live Stream enterprise
珠海诚锋电子科技有限公司成立于2015年，总部位于大湾区珠江口西岸核心城市珠海。公司在苏州、无锡、合肥、上海、北京、深圳、成都、武汉、长沙、福州、泰国、新加坡等国内外多地设立分公司及办事处，专注于半导体光学检测设备的研发、生产和销售。公司具有完全自主知识产权，自研多套光学显微成像技术，全栈掌握并积累多年图形检测核心算法，在晶圆制造、掩模版制造、光模块制造领域均已推出多个量产机型：适用于前道工艺控制的CFW820系列；掩模版制造光学检测的CFY210、CFY401CFY501系列；后道工艺检测的CFW910系列；光模块产线AOI检测的CF91X系列。全方位助力半导体行业的制程监控和良率提升。
企业产品enterprise products
①产品名称：CFW920 纳米图形晶圆缺陷检测设备
产品介绍：面向硅光芯片 800G／1．6T、先进封装 2D 缺陷检测场景，搭载 10X＠0．34μm、20X＠0．17μm 成像传感器，具备 Die 自纠偏扫描能力，算法适配多色差工况，实现晶圆图形缺陷高效检测，覆盖从晶圆到封测全产业链制程监控。
②产品名称：CF915 光模块金线 AOI设备
产品介绍：适配 800G／1．6T 光模块产线，可检测金球缺失、多球、Pad 多焊点、无晶粒、焊垫不良等缺陷，配套显微成像光路，搭载独立复判软件，满足光模块封装环节关键点位质量筛查需求。
③产品名称：CF916 DA 芯片全检测 AOI 设备
产品介绍：实现 TIA／PD／PIC／COC 全维度检测，配置 2X／5X／10X 显微成像光路，最高像素分辨率 0．34μm；可识别 PD 破损、脏污、划伤，PIC 裂纹、破损、压伤、脏污等问题，元器件、板材、金手指一体化检测，配备独立复判软件与电脑。
④CF917 光模块 PCBA AOI 设备产品介绍：采用 2D＋3D 检测架构，2D 分辨率 5μm ／ 像素，3D 分辨率 XY：13μm，Z：0．4μm，可实现元器件、板材、金手指全维度检测。可检出元器件缺失、破损、翘起、连锡；金手指划伤、压伤、露铜、缺失；板材破损、线路异常等各类缺陷，设备配套独立复判软件与电脑，满足光模块 PCBA 板卡生产过程质量管控需求。
⑤产品名称：CF918 光模块成品 AOI 设备产品介绍：采用 2D＋3D 检测架构，配置 15 个 2D 相机，像素分辨率 3μm；完成光模块 6 个面全检，覆盖金手指、标签等检测项，识别破损、划伤、脏污、异物、露铜、氧化等缺陷，搭载独立复判软件。
⑥产品名称：CF910?C 晶粒六面检设备产品介绍：兼容 0．2?3mm 尺寸芯片，适配 6 寸 ／ 8 寸扩晶环，分辨率可达 1μm／pixel，完成晶粒六面全维度检测，识别破损、划伤、裂纹、氧化、变形、凸起、凹陷等各类缺陷，配置独立复判工作站，满足后道晶粒大批量质检需求。
⑦产品名称：CF910?D 晶圆双面检设备
产品介绍：PIC／PD／LENS 专用 AOI 设备，支持 6／8／12 寸 Wafer／Frame／ 扩晶环，最高像素分辨率 0．34μm，配置侧面远心镜头光路与高速高精度自动对焦模块，面向光通信光芯片器件开展高精度外观缺陷检测。
⑧产品名称：CF910?S COS高分辨率检测设备
产品介绍：面向光通信、半导体后道封装场景专用检测机型，适配扩晶环、晶圆框架来料检测，搭载高速成像对焦模组，针对小尺寸芯片、光学器件开展外观、异物、裂纹类缺陷筛查，可对接产线自动化上下料，配套独立复判系统，适配批量生产质检。
⑨产品名称：CFY210 Reticle 多用途缺陷检测设备
产品介绍：用于掩模版 Particle、针孔、图形 D2DB 检测，支持 460nm／530nm 多波段光源，透射 ／ 反射 ／ 散射多种检测模式，SMIF Pod 自动上下料，满足掩模版基板、镀铬、涂胶 Blank 基板检测，助力掩模版制造良率管控。
⑩产品名称：CFY401 UV Reticle 缺陷检测设备产品介绍：Maskshop／FAB 掩模版图形缺陷检测机型，对标海外 KT4 系列设备，支持 GDSII 数据导入，适配 90?250nm 制程，完成 UV 掩模版图形与微粒缺陷检测，实现掩模版制造国产化替代。
直播嘉宾Live Stream Guests姓名：欧阳嘉诚（Owen）
职位：产品总监
珠海诚锋电子科技产品总监（PD），中山大学ACM竞赛队员，英国Cass商学院硕士，曾在微软亚洲研究院任职。
直播预约Book a live stream
码上观看
当前，AI 算力爆发式增长正推动高速光互联需求急剧攀升，“光进电退”，CPO ／ 硅光量产落地已成为光电子产业的核心趋势。光电检测技术加速赋能光通信产业高质量发展。
在此背景下，第二十七届中国国际光电博览会（CIOE 中国光博会）将于 2026 年 9 月 9 日至 11 日在深圳国际会展中心举办，为光电产业跨领域融合与高质量发展搭建战略性平台，助力新质生产力培育。
本次 VIP 展台直播将走进诚锋科技 12D26 展位，直播时间：9 月 9 日下午 15：40?16：00，带您现场探访诚锋自研光学检测设备。深度解读纳米级检测核心技术优势，分享国产化检测设备在半导体、光通信领域的落地实践，剖析行业检测现存痛点与解决思路。诚锋科技产品总监将现场解读产品硬核实力，欢迎行业同仁线上交流，共同探讨光学检测产业发展新方向。
直播企业Live Stream enterprise
珠海诚锋电子科技有限公司成立于2015年，总部位于大湾区珠江口西岸核心城市珠海。公司在苏州、无锡、合肥、上海、北京、深圳、成都、武汉、长沙、福州、泰国、新加坡等国内外多地设立分公司及办事处，专注于半导体光学检测设备的研发、生产和销售。公司具有完全自主知识产权，自研多套光学显微成像技术，全栈掌握并积累多年图形检测核心算法，在晶圆制造、掩模版制造、光模块制造领域均已推出多个量产机型：适用于前道工艺控制的CFW820系列；掩模版制造光学检测的CFY210、CFY401CFY501系列；后道工艺检测的CFW910系列；光模块产线AOI检测的CF91X系列。全方位助力半导体行业的制程监控和良率提升。
企业产品enterprise products
①产品名称：CFW920 纳米图形晶圆缺陷检测设备
产品介绍：面向硅光芯片 800G／1．6T、先进封装 2D 缺陷检测场景，搭载 10X＠0．34μm、20X＠0．17μm 成像传感器，具备 Die 自纠偏扫描能力，算法适配多色差工况，实现晶圆图形缺陷高效检测，覆盖从晶圆到封测全产业链制程监控。
②产品名称：CF915 光模块金线 AOI设备
产品介绍：适配 800G／1．6T 光模块产线，可检测金球缺失、多球、Pad 多焊点、无晶粒、焊垫不良等缺陷，配套显微成像光路，搭载独立复判软件，满足光模块封装环节关键点位质量筛查需求。
③产品名称：CF916 DA 芯片全检测 AOI 设备
产品介绍：实现 TIA／PD／PIC／COC 全维度检测，配置 2X／5X／10X 显微成像光路，最高像素分辨率 0．34μm；可识别 PD 破损、脏污、划伤，PIC 裂纹、破损、压伤、脏污等问题，元器件、板材、金手指一体化检测，配备独立复判软件与电脑。
④CF917 光模块 PCBA AOI 设备产品介绍：采用 2D＋3D 检测架构，2D 分辨率 5μm ／ 像素，3D 分辨率 XY：13μm，Z：0．4μm，可实现元器件、板材、金手指全维度检测。可检出元器件缺失、破损、翘起、连锡；金手指划伤、压伤、露铜、缺失；板材破损、线路异常等各类缺陷，设备配套独立复判软件与电脑，满足光模块 PCBA 板卡生产过程质量管控需求。
⑤产品名称：CF918 光模块成品 AOI 设备产品介绍：采用 2D＋3D 检测架构，配置 15 个 2D 相机，像素分辨率 3μm；完成光模块 6 个面全检，覆盖金手指、标签等检测项，识别破损、划伤、脏污、异物、露铜、氧化等缺陷，搭载独立复判软件。
⑥产品名称：CF910?C 晶粒六面检设备产品介绍：兼容 0．2?3mm 尺寸芯片，适配 6 寸 ／ 8 寸扩晶环，分辨率可达 1μm／pixel，完成晶粒六面全维度检测，识别破损、划伤、裂纹、氧化、变形、凸起、凹陷等各类缺陷，配置独立复判工作站，满足后道晶粒大批量质检需求。
⑦产品名称：CF910?D 晶圆双面检设备
产品介绍：PIC／PD／LENS 专用 AOI 设备，支持 6／8／12 寸 Wafer／Frame／ 扩晶环，最高像素分辨率 0．34μm，配置侧面远心镜头光路与高速高精度自动对焦模块，面向光通信光芯片器件开展高精度外观缺陷检测。
⑧产品名称：CF910?S COS高分辨率检测设备
产品介绍：面向光通信、半导体后道封装场景专用检测机型，适配扩晶环、晶圆框架来料检测，搭载高速成像对焦模组，针对小尺寸芯片、光学器件开展外观、异物、裂纹类缺陷筛查，可对接产线自动化上下料，配套独立复判系统，适配批量生产质检。
⑨产品名称：CFY210 Reticle 多用途缺陷检测设备
产品介绍：用于掩模版 Particle、针孔、图形 D2DB 检测，支持 460nm／530nm 多波段光源，透射 ／ 反射 ／ 散射多种检测模式，SMIF Pod 自动上下料，满足掩模版基板、镀铬、涂胶 Blank 基板检测，助力掩模版制造良率管控。
⑩产品名称：CFY401 UV Reticle 缺陷检测设备产品介绍：Maskshop／FAB 掩模版图形缺陷检测机型，对标海外 KT4 系列设备，支持 GDSII 数据导入，适配 90?250nm 制程，完成 UV 掩模版图形与微粒缺陷检测，实现掩模版制造国产化替代。
直播嘉宾Live Stream Guests姓名：欧阳嘉诚（Owen）
职位：产品总监
珠海诚锋电子科技产品总监（PD），中山大学ACM竞赛队员，英国Cass商学院硕士，曾在微软亚洲研究院任职。
直播预约Book a live stream
码上观看
